Уважаемые коллеги!
Приветствуем вас на канале Центра коллективного пользования физическими методами исследований веществ и материалов
Института общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова РАН!
Деятельность нашего Центра направлена на материаловедческую диагностику и аналитический контроль химического состава, строения (структуры) и свойств веществ и материалов.
Центр коллективного пользования физическими методами исследований веществ и материалов ИОНХ РАН- это симбиоз современных приборов, метрологического, методического и информационного обеспечения, высококвалифицированных кадров, а также система работы, объединяющая все эти компоненты в единый эффективный ансамбль.
Приветствуем вас на канале Центра коллективного пользования физическими методами исследований веществ и материалов
Института общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова РАН!
Деятельность нашего Центра направлена на материаловедческую диагностику и аналитический контроль химического состава, строения (структуры) и свойств веществ и материалов.
Центр коллективного пользования физическими методами исследований веществ и материалов ИОНХ РАН- это симбиоз современных приборов, метрологического, методического и информационного обеспечения, высококвалифицированных кадров, а также система работы, объединяющая все эти компоненты в единый эффективный ансамбль.
Основные направления исследований и выполняемых работ в ЦКП
-Качественный и количественный химический анализ веществ и материалов методами атомно-эмиссионной, атомно-абсорбционной и рентгенофлуоресцентной спектрометрии;
-Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ;
-Электронно-микроскопические исследования, локальный элементный анализ;
-Хроматографические исследования (ГХ-МС, ВЭЖХ);
-Исследования физических свойств материалов;
-Спектроскопические исследования в (ЯМР, ИК, ФЛ, КРС);
-Термический анализ (ТГА, ДСК);
-Количественный CHNS-анализ;
-Анализ удельной поверхности и плотности;
-Климатические испытания.
Подробная информация о ЦКП представлена на сайте www.igic.ras.ru/tskp.php
-Качественный и количественный химический анализ веществ и материалов методами атомно-эмиссионной, атомно-абсорбционной и рентгенофлуоресцентной спектрометрии;
-Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ;
-Электронно-микроскопические исследования, локальный элементный анализ;
-Хроматографические исследования (ГХ-МС, ВЭЖХ);
-Исследования физических свойств материалов;
-Спектроскопические исследования в (ЯМР, ИК, ФЛ, КРС);
-Термический анализ (ТГА, ДСК);
-Количественный CHNS-анализ;
-Анализ удельной поверхности и плотности;
-Климатические испытания.
Подробная информация о ЦКП представлена на сайте www.igic.ras.ru/tskp.php
К 300-летнему юбилею Российской академии наук академиком Ю.А.Золотовым и Л.В.Тумуровой опубликована книга «Аналитическая химия в Академии наук». Начинает главу, посвященную Отделению химии и наук о материалах, ИОНХ РАН. Приятно отметить, что в летопись аналитической истории института внес свой вклад и наш Центр.
В книге отмечено, что «ЦКП института при поддержке государственных программ значительно расширил парк диагностического и аналитического оборудования и востребован как со стороны научных групп института, так и со стороны других научных организаций РАН и ВУЗов, а также предприятий реального сектора экономики, фармацевтических и медицинский учреждений».
Оборудованию аналитического центра - ЦКП ФМИ ИОНХ РАН будет посвящена серия публикаций на нашем канале.
В книге отмечено, что «ЦКП института при поддержке государственных программ значительно расширил парк диагностического и аналитического оборудования и востребован как со стороны научных групп института, так и со стороны других научных организаций РАН и ВУЗов, а также предприятий реального сектора экономики, фармацевтических и медицинский учреждений».
Оборудованию аналитического центра - ЦКП ФМИ ИОНХ РАН будет посвящена серия публикаций на нашем канале.
Растровая электронная микроскопия
Растровая электронная микроскопия (РЭМ) один из наиболее универсальных и эффективных методов исследования структуры материалов. Данный метод позволяет получить изображения поверхности материала с высоким разрешением, а также информацию о его химическом составе. К объектам исследования, для которых уже накоплен значительный опыт анализа методом электронной микроскопии, относятся керамика, дисперсные материалы, сорбенты, катализаторы для нефтепереработки, ионопроводящие мембраны, компоненты устройств электрохимического хранения энергии и микроэлектроники, сенсоры (в т.ч. на основе фотонных кристаллов), полимерные покрытия, тканые и нетканые материалы и др.
В ЦКП ИОНХ РАН анализ методом РЭМ осуществляется при помощи растрового электронного микроскопа Tescan Amber, обладающего близким к рекордным для классической электронной оптики разрешениям в широком диапазоне токов и напряжений. Преимуществом данного микроскопа является реализация просвечивающего режима съемки с помощью детектора STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) в режиме темного или светлого поля. Этот режим позволяет проводить исследования структуры ультратонких образцов и ультрадисперсных материалов, а также качественно и количественно определять их химический состав путем анализа характеристического рентгеновского излучения с разрешением порядка десятка нанометров. Комбинация в одном устройстве функций растрового и просвечивающего электронного микроскопа предоставляет явные преимущества при анализе гигроскопичных, склонных к окислению веществ и материалов.
Благодаря оснащению ЦКП становится возможным решение широкого спектра задач в рамках исследования наноструктурированных функциональных материалов, биологических объектов и биоматериалов, полимеров, аэрогелей и ксерогелей различного состава, керамических материалов, шлифов различных сплавов и сталей, геологических объектов и компонент микроэлектроники.
Растровая электронная микроскопия (РЭМ) один из наиболее универсальных и эффективных методов исследования структуры материалов. Данный метод позволяет получить изображения поверхности материала с высоким разрешением, а также информацию о его химическом составе. К объектам исследования, для которых уже накоплен значительный опыт анализа методом электронной микроскопии, относятся керамика, дисперсные материалы, сорбенты, катализаторы для нефтепереработки, ионопроводящие мембраны, компоненты устройств электрохимического хранения энергии и микроэлектроники, сенсоры (в т.ч. на основе фотонных кристаллов), полимерные покрытия, тканые и нетканые материалы и др.
В ЦКП ИОНХ РАН анализ методом РЭМ осуществляется при помощи растрового электронного микроскопа Tescan Amber, обладающего близким к рекордным для классической электронной оптики разрешениям в широком диапазоне токов и напряжений. Преимуществом данного микроскопа является реализация просвечивающего режима съемки с помощью детектора STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) в режиме темного или светлого поля. Этот режим позволяет проводить исследования структуры ультратонких образцов и ультрадисперсных материалов, а также качественно и количественно определять их химический состав путем анализа характеристического рентгеновского излучения с разрешением порядка десятка нанометров. Комбинация в одном устройстве функций растрового и просвечивающего электронного микроскопа предоставляет явные преимущества при анализе гигроскопичных, склонных к окислению веществ и материалов.
Благодаря оснащению ЦКП становится возможным решение широкого спектра задач в рамках исследования наноструктурированных функциональных материалов, биологических объектов и биоматериалов, полимеров, аэрогелей и ксерогелей различного состава, керамических материалов, шлифов различных сплавов и сталей, геологических объектов и компонент микроэлектроники.
Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (АЭС-ИСП) - востребованный метод определения химического состава различных материалов. АЭС-ИСП обладает высокой чувствительностью, широким диапазоном определяемых концентраций (0,0001 - 100) % масс, многоэлементностью, производительностью и универсальностью.
Применяется для анализа чистых веществ и материалов, металлов, сплавов, объектов окружающей среды, медико-биологических объектов, руд, концентратов, флюсов, полупродуктов металлургического производства, вторичного металлсодержащего сырья и мн. др.
В ЦКП АЭС-ИСП реализуется с использованием оптического спектрометра Thermo Scientific iCAP XP с двойным обзором плазмы (осевым и радиальным), который позволяет определять порядка 70 элементов в спектральном диапазоне от 167 до 850 нм с разрешением <7 пм при 200 нм.
Аналитическая группа ЦКП осуществляет разработку методик атомно-эмиссионного с индуктивно связанной плазмой анализа материалов на основе редкоземельных элементов, вторичного металлсодержащего сырья, высокочистых веществ, металлургических объектов и многих других.
Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (АЭС-ИСП) - востребованный метод определения химического состава различных материалов. АЭС-ИСП обладает высокой чувствительностью, широким диапазоном определяемых концентраций (0,0001 - 100) % масс, многоэлементностью, производительностью и универсальностью.
Применяется для анализа чистых веществ и материалов, металлов, сплавов, объектов окружающей среды, медико-биологических объектов, руд, концентратов, флюсов, полупродуктов металлургического производства, вторичного металлсодержащего сырья и мн. др.
В ЦКП АЭС-ИСП реализуется с использованием оптического спектрометра Thermo Scientific iCAP XP с двойным обзором плазмы (осевым и радиальным), который позволяет определять порядка 70 элементов в спектральном диапазоне от 167 до 850 нм с разрешением <7 пм при 200 нм.
Аналитическая группа ЦКП осуществляет разработку методик атомно-эмиссионного с индуктивно связанной плазмой анализа материалов на основе редкоземельных элементов, вторичного металлсодержащего сырья, высокочистых веществ, металлургических объектов и многих других.
НА ОБОРУДОВАНИИ ЦКП РЕАЛИЗУЮТСЯ ПРОГРАММЫ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ ИОНХ РАН [email protected]:
Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов
Основы порошковой рентгеновской дифракции
Практический рентгеноструктурный анализ
Основы аналитической химии. Базовый курс
Статистическая обработка результатов эксперимента
Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов
Основы порошковой рентгеновской дифракции
Практический рентгеноструктурный анализ
Основы аналитической химии. Базовый курс
Статистическая обработка результатов эксперимента
Forwarded from Химия в России и за рубежом (канал ИОНХ РАН)
ИОНХ РАН открывает набор на курс дополнительного профессионального образования по программе повышения квалификации «Основы порошковой рентгеновской дифракции» с выдачей удостоверения о повышении квалификации
Обучение состоится с 13 мая по 17 мая 2024 г. в ИОНХ РАН
В рамках курса будут рассмотрены теоретические основы дифракции рентгеновского излучения, качественный и количественный рентгенофазовый анализ, профильный анализ дифрактограмм. Предполагаются как теоретические занятия, так и практические, на которых будут изложены рекомендации по постановке порошкового дифракционного эксперимента. Данный курс позволяет ознакомиться с основами порошковой рентгеновской дифракции и углубить знания о современных физико-химических методах анализа.
Место проведения курсов:
ИОНХ РАН (Ленинский проспект, 31), ауд.725 с 10.00 до 17.00.
По окончании курса всем участникам с ВО или СПО выдаётся удостоверение о повышении квалификации установленного образца.
Стоимость участия составляет 29 000 рублей с человека.
Количество мест в группе ограниченно - не более 10 человек.
Заявки на обучение в свободной форме можно направлять по адресу: [email protected]
#обучение #ионх
Обучение состоится с 13 мая по 17 мая 2024 г. в ИОНХ РАН
В рамках курса будут рассмотрены теоретические основы дифракции рентгеновского излучения, качественный и количественный рентгенофазовый анализ, профильный анализ дифрактограмм. Предполагаются как теоретические занятия, так и практические, на которых будут изложены рекомендации по постановке порошкового дифракционного эксперимента. Данный курс позволяет ознакомиться с основами порошковой рентгеновской дифракции и углубить знания о современных физико-химических методах анализа.
Место проведения курсов:
ИОНХ РАН (Ленинский проспект, 31), ауд.725 с 10.00 до 17.00.
По окончании курса всем участникам с ВО или СПО выдаётся удостоверение о повышении квалификации установленного образца.
Стоимость участия составляет 29 000 рублей с человека.
Количество мест в группе ограниченно - не более 10 человек.
Заявки на обучение в свободной форме можно направлять по адресу: [email protected]
#обучение #ионх
Определение свойств веществ и материалов
ЦКП располагает прибором, предназначенным для измерений физических свойств веществ и материалов в широком диапазоне температур и магнитных полей – автоматизированным комплексом измерений физических свойств PPMS-9 фирмы Quantum Design.
Данное оборудование позволяет проводить измерения теплоемкости, теплопроводности, электрических и магнитных свойств (в магнитных полях до 9 Тесла).
Диапазон рабочих температур: от комнатной (300 К) до температуры 2 К (ниже температуры кипения жидкого гелия (4,2 К)).
Магнетометр, входящий в состав измерительного комплекса, позволяет исследовать магнетики различной природы от сверхпроводников (идеальный диамагнетик) до ферромагнетиков (неодим-железо-бор или самарий-кобальт).
В 2020 году прибор оснащен реконденсатором жидкого гелия PT415 производства Cryomech. Жидкий гелий необходим для регулировки температуры и поддержания сверхпроводящего состояния используемого в приборе магнита. Реконденсатор жидкого гелия обеспечивает возможность работы автоматизированного комплекса проведения физических измерений PPMS-9 в непрерывном режиме 24/7 в течение всего года.
ЦКП располагает прибором, предназначенным для измерений физических свойств веществ и материалов в широком диапазоне температур и магнитных полей – автоматизированным комплексом измерений физических свойств PPMS-9 фирмы Quantum Design.
Данное оборудование позволяет проводить измерения теплоемкости, теплопроводности, электрических и магнитных свойств (в магнитных полях до 9 Тесла).
Диапазон рабочих температур: от комнатной (300 К) до температуры 2 К (ниже температуры кипения жидкого гелия (4,2 К)).
Магнетометр, входящий в состав измерительного комплекса, позволяет исследовать магнетики различной природы от сверхпроводников (идеальный диамагнетик) до ферромагнетиков (неодим-железо-бор или самарий-кобальт).
В 2020 году прибор оснащен реконденсатором жидкого гелия PT415 производства Cryomech. Жидкий гелий необходим для регулировки температуры и поддержания сверхпроводящего состояния используемого в приборе магнита. Реконденсатор жидкого гелия обеспечивает возможность работы автоматизированного комплекса проведения физических измерений PPMS-9 в непрерывном режиме 24/7 в течение всего года.
В ИОНХ РАН с 15 по 19 апреля состоялась Научно-практическая конференция "Фторидные материалы и технологии"
Василиса Борисовна Барановская, заведующая центром коллективного пользования ИОНХ РАН сделала доклад «Аналитические методы исследования фторидных материалов», в котором рассказала о прогрессивных методах исследования фторсодержащих материалов: оптических стекол, керамики и фторполимеров, а также о возможностях материаловедческой диагностики и аналитического контроля в ЦКП ФМИ ИОНХ РАН. В рамках экскурсии по Центру коллективного пользования ИОНХ РАН участники конференции ознакомились с комплексом дифрактометрического оборудования, оборудованием для элементного анализа и молекулярной спектроскопии, спектрометром ЯМР и сканирующим электронным микроскопом. Вопросы и живые дискуссии участников конференции и специалистов ИОНХ РАН могут послужить основой новых научных контактов и совместных исследований.
Василиса Борисовна Барановская, заведующая центром коллективного пользования ИОНХ РАН сделала доклад «Аналитические методы исследования фторидных материалов», в котором рассказала о прогрессивных методах исследования фторсодержащих материалов: оптических стекол, керамики и фторполимеров, а также о возможностях материаловедческой диагностики и аналитического контроля в ЦКП ФМИ ИОНХ РАН. В рамках экскурсии по Центру коллективного пользования ИОНХ РАН участники конференции ознакомились с комплексом дифрактометрического оборудования, оборудованием для элементного анализа и молекулярной спектроскопии, спектрометром ЯМР и сканирующим электронным микроскопом. Вопросы и живые дискуссии участников конференции и специалистов ИОНХ РАН могут послужить основой новых научных контактов и совместных исследований.
В МВЦ «Крокус Экспо» с 16 по 18 апреля состоялась 22-ая Международная выставка «Аналитика Экспо»!
«Аналитика Экспо» —межотраслевая выставка лабораторного оборудования, химических реактивов, лабораторной мебели, лабораторной посуды, средств автоматизации лабораторных исследований, оборудования для биотехнологий и контрольно-измерительного оборудования.
Выставку «Аналитика Экспо-2024» посетили специалисты ЦКП ФМИ ИОНХ РАН и приняли участие в семинарах "Требования стандарта ГОСТ ISO/IEC 17025-2019 в части входного контроля материалов и услуг. Прослеживаемость результатов измерений" (ААЦ АНАЛИТИКА) и "Новые возможности и варианты высокоэффективной жидкостной хроматографии в химическом анализе и технологии" (НСАХ РАН), прошедших 17 апреля в рамках деловой программы выставки.
«Аналитика Экспо» —межотраслевая выставка лабораторного оборудования, химических реактивов, лабораторной мебели, лабораторной посуды, средств автоматизации лабораторных исследований, оборудования для биотехнологий и контрольно-измерительного оборудования.
Выставку «Аналитика Экспо-2024» посетили специалисты ЦКП ФМИ ИОНХ РАН и приняли участие в семинарах "Требования стандарта ГОСТ ISO/IEC 17025-2019 в части входного контроля материалов и услуг. Прослеживаемость результатов измерений" (ААЦ АНАЛИТИКА) и "Новые возможности и варианты высокоэффективной жидкостной хроматографии в химическом анализе и технологии" (НСАХ РАН), прошедших 17 апреля в рамках деловой программы выставки.