Уважаемые коллеги!
Приветствуем вас на канале Центра коллективного пользования физическими методами исследований веществ и материалов
Института общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова РАН!
Деятельность нашего Центра направлена на материаловедческую диагностику и аналитический контроль  химического состава, строения (структуры) и свойств веществ и материалов.
Центр коллективного пользования физическими методами исследований веществ и материалов ИОНХ РАН- это симбиоз современных приборов, метрологического, методического и информационного обеспечения, высококвалифицированных кадров, а также  система работы, объединяющая все эти компоненты в единый эффективный ансамбль.

Основные направления исследований и выполняемых работ в ЦКП

-Качественный и количественный химический анализ веществ и материалов методами атомно-эмиссионной, атомно-абсорбционной и рентгенофлуоресцентной спектрометрии;

-Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ;

-Электронно-микроскопические исследования, локальный элементный анализ;

-Хроматографические исследования (ГХ-МС, ВЭЖХ);

-Исследования физических свойств материалов;

-Спектроскопические исследования в (ЯМР, ИК, ФЛ, КРС);

-Термический анализ (ТГА, ДСК);

-Количественный CHNS-анализ;

-Анализ удельной поверхности и плотности;

-Климатические испытания.

Подробная информация о ЦКП представлена на сайте www.igic.ras.ru/tskp.php

К 300-летнему юбилею Российской академии наук академиком Ю.А.Золотовым и Л.В.Тумуровой опубликована книга «Аналитическая химия в Академии наук».  Начинает главу, посвященную Отделению химии и наук о материалах, ИОНХ РАН. Приятно отметить, что в летопись аналитической истории института внес свой вклад и наш Центр.
В книге отмечено, что «ЦКП института при поддержке государственных программ значительно расширил парк диагностического и аналитического оборудования и востребован как со стороны научных групп института, так и со стороны других научных организаций РАН и ВУЗов, а также предприятий реального сектора экономики, фармацевтических и медицинский учреждений».
Оборудованию аналитического центра - ЦКП ФМИ ИОНХ РАН будет посвящена серия публикаций на нашем канале.

Растровая электронная микроскопия

Растровая электронная микроскопия (РЭМ) один из наиболее универсальных и эффективных методов исследования структуры материалов. Данный метод позволяет получить изображения поверхности материала с высоким разрешением, а также информацию о его химическом составе. К объектам исследования, для которых уже накоплен значительный опыт анализа методом электронной микроскопии, относятся керамика, дисперсные материалы, сорбенты, катализаторы для нефтепереработки, ионопроводящие мембраны, компоненты устройств электрохимического хранения энергии и микроэлектроники, сенсоры (в т.ч. на основе фотонных кристаллов), полимерные покрытия, тканые и нетканые материалы и др.

В ЦКП ИОНХ РАН анализ методом РЭМ осуществляется при помощи растрового электронного микроскопа Tescan Amber, обладающего близким к рекордным для классической электронной оптики разрешениям в широком диапазоне токов и напряжений. Преимуществом данного микроскопа является реализация просвечивающего режима съемки с помощью детектора STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) в режиме темного или светлого поля. Этот режим позволяет проводить исследования структуры ультратонких образцов и ультрадисперсных материалов, а также качественно и количественно определять их химический состав путем анализа характеристического рентгеновского излучения с разрешением порядка десятка нанометров. Комбинация в одном устройстве функций растрового и просвечивающего электронного микроскопа предоставляет явные преимущества при анализе гигроскопичных, склонных к окислению веществ и материалов.
Благодаря оснащению ЦКП становится возможным решение широкого спектра задач в рамках исследования наноструктурированных функциональных материалов, биологических объектов и биоматериалов, полимеров, аэрогелей и ксерогелей различного состава, керамических материалов, шлифов различных сплавов и сталей, геологических объектов и компонент микроэлектроники.

Оптический спектрометр Thermo Scientific iCAP XP

Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой

Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (АЭС-ИСП) - востребованный метод определения химического состава различных материалов. АЭС-ИСП обладает высокой чувствительностью, широким диапазоном определяемых концентраций (0,0001 - 100) % масс, многоэлементностью, производительностью и универсальностью.
Применяется для анализа чистых веществ и материалов, металлов, сплавов, объектов окружающей среды, медико-биологических объектов, руд, концентратов, флюсов, полупродуктов металлургического производства, вторичного металлсодержащего сырья и мн. др.

В ЦКП АЭС-ИСП реализуется с использованием оптического спектрометра Thermo Scientific iCAP XP с двойным обзором плазмы (осевым и радиальным), который позволяет определять порядка 70 элементов в спектральном диапазоне от 167 до 850 нм с разрешением <7 пм при 200 нм.
Аналитическая группа ЦКП осуществляет разработку методик атомно-эмиссионного с индуктивно связанной плазмой анализа материалов на основе редкоземельных элементов, вторичного металлсодержащего сырья, высокочистых веществ, металлургических объектов и многих других.

НА ОБОРУДОВАНИИ ЦКП РЕАЛИЗУЮТСЯ ПРОГРАММЫ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ ИОНХ РАН [email protected]:
 Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов
 Основы порошковой рентгеновской дифракции
 Практический рентгеноструктурный анализ
 Основы аналитической химии. Базовый курс
 Статистическая обработка результатов эксперимента

ИОНХ РАН открывает набор на курс дополнительного профессионального образования по программе повышения квалификации «Основы порошковой рентгеновской дифракции» с выдачей удостоверения о повышении квалификации

Обучение состоится с 13 мая по 17 мая 2024 г. в ИОНХ РАН

В рамках курса будут рассмотрены теоретические основы дифракции рентгеновского излучения, качественный и количественный рентгенофазовый анализ, профильный анализ дифрактограмм. Предполагаются как теоретические занятия, так и практические, на которых будут изложены рекомендации по постановке порошкового дифракционного эксперимента. Данный курс позволяет ознакомиться с основами порошковой рентгеновской дифракции и углубить знания о современных физико-химических методах анализа.

Место проведения курсов:

ИОНХ РАН (Ленинский проспект, 31), ауд.725 с 10.00 до 17.00.

По окончании курса всем участникам с ВО или СПО выдаётся удостоверение о повышении квалификации установленного образца.

Стоимость участия составляет 29 000 рублей с человека.
Количество мест в группе ограниченно - не более 10 человек.

Заявки на обучение в свободной форме можно направлять по адресу: [email protected]

#обучение #ионх

Автоматизированный комплекс измерений физических свойств Quantum Design PPMS-9